Z powodzeniem wyprodukowaliśmy precyzyjnyBlok mocowania testowego ze stali nierdzewnej 304do zastosowań wyposażenia testowego półprzewodników. Ten krytyczny komponent interfejsu testowego wymaga wyjątkowej stabilności wymiarowej, płaskości i odporności na zużycie, aby zapewnić niezawodne, powtarzalne wyniki badań w tysiącach cykli badań urządzeń półprzewodnikowych.
| Nazwa projektu | Blok mocowania testowego ze stali nierdzewnej 304 |
| Metryka kluczowa | Specyfikacja |
| Tolerancja wymiarowa | ± 0,015 mm (krytyczne interfejsy testowe) |
| Płaskość | ≤0,01 mm (powierzchnia montażowa) |
| Materiał | Stal nierdzewna 304 |
| Szrobkość powierzchni | Ra≤1,6μm (powierzchnie interfejsu testowego) |
| Proces obróbki | Frezowanie CNC |
| Obróbka cieplna | Odgrzanie zmniejszające stres |
Każdy składnik poddał się kompleksowej kontroli przy użyciuPomiar CMMdla dokładności wymiarowej (±0,015 mm na krytycznych interfejsach) orazweryfikacja płaskości (≤0,01 mm), uzupełniony badaniem szorstkości powierzchni i inspekcją wizualną.
Rozwiązanie to pokazuje naszą wiedzę w zakresieprodukcja precyzyjnych urządzeń testowych półprzewodnikówidealny do:
✓ Obsługiwacze testów półprzewodników ✓ Stacje sondowe płytek ✓ Systemy charakteryzacji urządzeń ✓ Sprzęt do badań niezawodności
Prześlij swój CAD za darmową wycenę. Nie ma minimalnego zamówienia.
Uzyskaj darmową ofertę