Hemos fabricado con éxito una alta precisiónBloque de fijación de prueba de acero inoxidable 304para una aplicación de equipo de prueba de semiconductores. Este componente crítico de la interfaz de prueba requiere una estabilidad dimensional, planura y resistencia al desgaste excepcionales para garantizar resultados de prueba fiables y repetibles en miles de ciclos de prueba de dispositivos semiconductores.
| Nombre del proyecto | Bloque de fijación de prueba de acero inoxidable 304 |
| Metrica clave | Especificación |
| Tolerancia dimensional | ±0.015mm (interfaces de prueba críticas) |
| Planitud | ≤0.01mm (superficie de montaje) |
| Material | Acero inoxidable 304 |
| Rugosidad de la superficie | Ra≤1.6μm (superficies de interfaz de prueba) |
| Proceso de mecanizado | Fresado CNC |
| Tratamiento térmico | Recocido de alivio del estrés |
Cada componente fue sometido a una inspección exhaustiva utilizandoMedición CMMpara la precisión dimensional (±0,015 mm en interfaces críticas) yverificación de planitud (≤0.01mm), complementado por pruebas de rugosidad superficial e inspección visual.
Esta solución demuestra nuestra experiencia enfabricación de accesorios de prueba de semiconductores de precisiónIdeal para:
✓ Manipuladores de pruebas de semiconductores ✓ Estaciones de sonda de obleas ✓ Sistemas de caracterización de dispositivos ✓ Equipo de prueba de fiabilidad
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